Николас Фанг (Nicholas Fang), Сян Чжан (Xiang Zhang) и их коллеги из университета Калифорнии в Беркли (University of California, Berkeley) разработали суперлинзу, позволяющую получить разрешение у оптического микроскопа в 60 нанометров.

Достигнутый показатель в несколько раз выше прежнего рекорда разрешения оптических микроскопов (примерно 400 нанометров) и любопытен тем, что составляет одну шестую от длины использованной волны (а это был ультрафиолетовый диапазон).

В качестве суперлинзы выступала тончайшая плёнка серебра. Приставка «супер» в данном случае относится не к высокому разрешению самому по себе, а как раз к тому факту, что новая система позволила преодолеть так называемый дифракционный барьер и получить информацию об объекте с разрешением намного более высоким, чем длина несущей эту самую информацию волны света.

Этот необычный эффект получен при задействовании поверхностных волн электронной плотности на серебряной плёнке — так называемых плазмонов.

Авторы работы отмечают, что хотя существуют системы с лучшим разрешением (считанные нанометры у электронных и атомных силовых микроскопов), они требуют минуты для захвата изображения, в то время как оптические микроскопы позволяют сделать снимок с выдержкой в доли секунды.

Фактор времени может оказаться важным для рассмотрения быстродействующих процессов, к примеру, в живой клетке. Также новая техника откроет дорогу к лучшей оптоволоконной оптике и микросхемам с меньшим размером элементов.

MEMBRANA